德光DC-2000C系列基本款超聲波測(cè)厚儀探頭自動(dòng)識(shí)別和自動(dòng)零位校準(zhǔn)，內(nèi)置不同測(cè)量模式：標(biāo)準(zhǔn)和小值測(cè)量模式 （DC-2000C/DC-2010C/DC-2030C）、標(biāo)準(zhǔn)，小值，差分值，平均值和上下限測(cè)量模式（DC-2020C）

德光DC-1000C超聲波測(cè)厚儀適合測(cè)量金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度值，選用不同探頭可測(cè)量平面、曲面、管材的厚度，選配低頻探頭測(cè)量鑄鐵等粗晶材料、曲面探頭測(cè)量管件的內(nèi)壁或外壁、長(zhǎng)手柄探頭測(cè)量不易接觸的表面

CHY-C2A薄膜測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。 該設(shè)備滿足多項(xiàng)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、